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　　雜散光是紫外可見分光光度計非常重要的關鍵技術指標。它是紫外可見分光光度計分析誤差的主要來源, 它直接限制被分析測試樣品濃度的上限。當一臺紫外可見分光光度計的雜散光一定時, 被分析的試樣濃度越大, 其分析誤差就越大。astm 認為: “雜散光可能是光譜測量中主要誤差的來源。尤其對高濃度的分析測試時, 雜散光更加重要”。有文獻報道, 在紫外可見光區(qū)的吸收光譜分析中, 若儀器有1%的雜散光, 則對2. 0a 的樣品測試時, 會引起2%的分析誤差時, 說明儀器中有這種雜散光存在。但必須注意, 當儀器存在零點誤差時, 有可能造成混淆。如果在不透明的樣品上涂上白色, 則可增加樣品本身反射和散射的效果, 可以提高測量靈敏度。第二種形式是指測試波長以外的、偏離正常光路而到達光電轉換器的光線。它通常是由光學系統(tǒng)的某些缺陷所引起的。如光學元件的表面被擦傷、儀器的光學系統(tǒng)設計不好、機械零部件加工不良, 使光路位置錯移等。
 

　　目前, 測試雜散光常用的方法是所謂“ 截止濾光法” 或稱作“ 濾光片法” 。主要是采用濾光片或濾光液來測試紫外可見分光光度計的雜散光。有時也采用he-ne 激光器的632. 8nm 來測試雜散光。具體做法是在離632. 8nm±5nm 處進行測試, 測出的數值與632. 8nm 相比就是雜散光。“截止濾光法” 的具體測試方法: 儀器冷態(tài)開機, 預熱0. 5h , 如用“濾光片法” 測試, 則參比為空氣; 如用濾光液來測試, 則參比為溶劑(若用nai、nano2 水溶液, 則參比為蒸餾水)。設置儀器的縱坐標為% t , 橫坐標為波長nm) , 用濾光液時, 試樣比色皿中裝濾光液, 參比比色皿中裝溶解液, 將波長調到相應的波長上( nai 為220nm、nano2 為340nm) 進行測試。